特許
Hortechの特許
Hortech Companyおよびその創設者であるDr. Owen Liは、複数の国で特許を取得しています。
アメリカ合衆国
• 二方向レーザーマシンツール、2016年8月9日
特許番号:9776285
• レーザー加工機、2011年9月23日
特許番号: 8710401 B2
• モーションと同期した等エネルギーパルスのレーザーデバイス、2013年4月16日
特許番号: 8422521
台湾、中華民国
• 脆弱な基板の加工用レーザーシステム、2020年4月1日
特許番号:M 598749
・プローブカードのクリーニングに使用されるレーザーデバイス、2019年12月4日
特許番号:M 590499
・測定マークの作成に使用されるレーザー加工デバイス、2019年8月7日
特許番号:M 585674
・結晶の機能性の検出デバイス、2018年2月26日
特許番号:M 561908
・ハイパースペクトルイメージング検出デバイスと施設、2018年2月12日
特許番号:M 568363
• レーザー加工装置、2017年12月21日
特許番号:M 559769
• 共有レーザー加工システム、2016年5月25日
特許番号:M 530001
• 両面レーザー加工機械工具、2016年5月12日
特許番号:M 527806
• 多色マイクロテクスチャリゼーション、機械製造、およびレーザー加工のための装置、2015年8月18日
特許番号:M 521507
• ダブル方向レーザーマシンツール、2015年8月28日
特許番号:M 515922
• レーザー加工機、2011年7月13日
特許番号:M 417976
• 運動と同期した等エネルギーパルスのレーザーデバイス、2011年1月4日
特許番号:I 403376
• レーザー加工機のパラメータキャリブレーション方法と自動パラメータキャリブレーション、2010年11月17日
特許番号:I 411484
• ダブル波長レーザーデバイス、2009年12月8日
特許番号:M 379912
中国
• 測定マーク作成に使用されるレーザー加工装置、2020年7月3日
特許番号:AL 202021277473.3
• 結晶体の機能性検出装置、2019年1月11日
特許番号:ZL 201920047687.2
• レーザー加工装置、2017年12月21日
特許番号:ZL 201721801518.0
• 共有レーザー加工システム、2016年5月25日
特許番号:ZL 201620483925.0
• 両面レーザー加工機械工具、2016年5月12日
特許番号:ZL 201620426817.X
• 多色マイクロテクスチャリゼーション、機械製造、およびレーザー加工のための装置、2015年8月18日
特許番号:ZL 201520663067.3
• ダブル方向レーザーマシンツール、2015年8月28日
特許番号:ZL 201520663067.3
• レーザー加工機、2011年7月13日
特許番号:ZL 201120255777.4
• 運動と同期した等エネルギーパルスのレーザーデバイス、2011年1月4日
特許番号:ZL 201110003852.2
• レーザー加工機のパラメータキャリブレーション方法と自動パラメータキャリブレーション、2010年11月17日
特許番号:ZL 201010551098.1
• ダブル波長レーザーデバイス、2009年12月8日
特許番号:ZL 200920277150.1
日本
• レーザー加工機、2012年7月3日
特許番号:5531060
韓国
• レーザー加工機、2011年7月6日
特許番号:10-1378619